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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics


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Produktinformationen
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Artikel-Nr.:
     858A-9783030156145
Hersteller:
     Springer Verlag
Herst.-Nr.:
     9783030156145
EAN/GTIN:
     9783030156145
Suchbegriffe:
Chemie-Bücher
Chemiebücher
Chemiebücher - englischsprachig
chemie bücher
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
Weitere Informationen:
Author:
Umberto Celano
Verlag:
Springer International Publishing
Sprache:
eng
Weitere Suchbegriffe: Atomic Force Microscope, Nanoscale materials analysis, VLSI metrology, Nanoelectronic materials, Nanoelectronic devices, Ferroelectrics for logic and memory, High-k dielectric materials, Diamond tip for AFM, Scanning capacitance microscopy
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