Kategorien
Mein Mercateo
Anmelden / Registrieren
Warenkorb
 
 

Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976


Menge:  Stück  
Produktinformationen
cover
cover
Artikel-Nr.:
     858A-9783211814338
Hersteller:
     Springer Verlag
Herst.-Nr.:
     9783211814338
EAN/GTIN:
     9783211814338
Suchbegriffe:
Physik- und Astronomiebücher - deut...
Physik-, Astronomiebücher
Physik-Bücher
physik bücher
Bedeutung und Möglichkeiten der Reinststoffanalytik in der Metallforschung.- Die Bestimmung kleinster N2- und CO-Gehalte in hochschmelzenden Metallen durch tiegelfreie Heißextraktion im Ultrahochvakuum.- Einsatz moderner instrumenteller Methoden zur Spurenanalyse in hochschmelzenden Metallen.- Applications of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).- A Comparison of Quantitative Models for SIMS Analysis.- Ermittlung kleiner Diffusionskoeffizienten mittels SIMS in oxydischen Verbindungen.- Oberflächen- und Tiefenanalyse mit der Auger-Elektronen-Spektroskopie (AES).- Einfluß des Elektronenstrahls und des Zerstäubens bei der AES.- Oberflächenuntersuchungen an Metallen und Legierungen mit ESCA.- Coating-Untersuchungen mit modernen physikalischen Methoden.- Untersuchung dünner Schichten im Rasterelektronenmikroskop.- Dünnschichtanalysen in der Elektronensonde.- Farbtechniken in der Rasterelektronenmikroskopie und Mikroanalyse.- Bremsstrahlungsuntergrund massiver Proben bei der Elektronenstrahlmikroanalyse.- Statistische Meßfehler und Auflösungsgrenzen in der energiedispersiven Röntgenanalyse.- Methoden der energiedispersiven Elektronenstrahl-Mikroanalyse in der Metallkunde.- Energiedispersive Röntgenanalyse an Einschlüssen und Ausscheidungen unter besonderer Berücksichtigung der Matrixeinflüsse.- Zum Einsatz des Mikroanalysators für die Untersuchung der Elektronenstruktur der Festkörper.- Auswertung von Röntgenvalenzbandspektren mittels mathematischer Methoden.- Die Bindung leichter Elemente in oberflächennahen Schichten metallischer Bauteile.- Ein Zwei-Platten-Multiplier für das Gebiet der ultraweichen Röntgenstrahlung.- Untersuchungen über die Verwendung von Beryllium-Aufdampfschichten in der ESMA.- Ermittlung von Diffusionssperrschichten bei derBildung von Nb3Sn-Schichten in Supraleitern mit Hilfe der Elektronenstrahlmikroanalyse.- Chemische Diffusion im ternären System Zr-Al-O.- Mikroanalytische Untersuchungen hochwarmfester Legierungen für Gasturbinenschaufeln.- Mikroanalytischer Aufbau von Bad- und Spritzschlacken eines Chromnickelstahles im Elektroofenprozeß.- Analyse von Edelmetall-Keramik-Verbindungen für dentale Anwendungen.- Untersuchung des Mikrogefüges Hf-hältiger Ni-Basis-Superlegierungen.- Korrosion von austenitischen Stählen in flüssigem Natrium.- Elektronenstrahlmikroanalyse im Dienste der Archäologie.- Verhalten nichtmetallischer Gefügebestandteile der Stähle beim Erhitzen in Wasserstoff.- Analysengenauigkeit bei der Bestimmung thermodynamischer Werte im System Ni-C bzw. Ni-CrC.- Quantitative Untersuchungen des Ausscheidungsverhaltens der Carbidphasen in X5Cr25 nach elektrochemischer Phasenisolierung.- Automatische, chemisch-spezifische Gefügeanalyse -- Hardware, Software, Anwendung.- Über das Ausscheidungs- und Korrosionsverhalten niobstabilisierter, korrosionsbeständiger Reaktorstähle.- Die Bestimmung nichtmetallischer Einschlüsse in metallischen Werkstoffen nach Ultraschall-Brüchen.- Das Verhalten von Mangan-Chrom-Spinellen bei der Oxidisolierung aus legierten Stählen.- Gedanken zu einer eichprobenfreien Röntgenfluoreszenzanalyse.- Nichtdispersive Röntgendiffraktometrie mit Halbleiterdetektoren.- Quantitative Röntgenfluoreszenz- und Beugungsanalysen an dünnen Schichten.- Zum analytischen Einsatz von Festelektrolyt-Sonden. Sauerstoffbestimmung in multinären Metallschmelzen.
Weitere Informationen:
Author:
M.K. Zacherl
Verlag:
Springer Wien
Sprache:
ger
Weitere Suchbegriffe: Analysis; Beugung; Diffusion; Fluss; Halbleiter; Massenspektrometrie; Metall; Mikroanalyse; Rasterelektronenmikroskopie; Spektroskopie; Strahlung; fluid-andaerodynamics, Analysis, Beugung, Diffusion, Fluss, Halbleiter, Ionenstrahl-Mikroanalyse, Massenspektrometrie, Metall, Mikroanalyse, Rasterelektronenmikroskopie
Die Konditionen im Überblick1
Lieferzeit
Lagerstand
Preis
€ 51,39*
Konditionen selbst auswählen
Artikel empfehlenArtikel merken
* Preise mit Sternchen sind Nettopreise zzgl. gesetzlich gültiger MwSt.
UVP bedeutet „Unverbindliche Preisempfehlung“
Unser Angebot richtet sich ausschließlich an Unternehmen, Gewerbetreibende und Freiberufler.